در آخرین شماره فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران در سال جاری، گزارشی از عملکرد کارگروه‌های تخصصی شبکه آزمایشگاهی، فعالیت‌های متنوع و دستاوردهای اعضای این کاگروه‌ها در سال ۹۶ منتشر شده است. برگزاری کارگاه‌های آموزش تخصصی مختلف، انتشار مقالات تخصصی و مواردی از این دست، از جمله این فعالیت‌ها هستند. مهمترین رویداد سال جاری کارگروه‌های تخصصی، تشکیل کارگروه جدید در حوزه آنالیز سطح است که فعالیت خود را با حدود ۴۰ عضو از مراکز عضو شبکه آزمایشگاهی آغاز کرده‌است. مشروح این گزارش، در بیستمین شماره فصلنامه آورده شده است.

واژه‌نامه و تعریف واژه‌ها از جمله ملزومات هر شاخه از علم بوده که برای فناوری های نوین که در آنها واژه‌های جدید بیشتری وجود دارد، نشر چنین واژه‌نامه‌هایی ضرورت بسیاری دارد. این شماره از فصلنامه، استاندارد ملی شماره ۲۱۲۵۸:۱۳۹۵ را معرفی کرده که مربوط به واژه‌نامه اندازه‌شناسی در مقیاس نانو است.

یونیزاسیون محیطی طیف‌سنجی جرمی از زمان معرفی الکترواسپری واجذب و آنالیز مستقیم در زمان واقعی، به ترتیب در سال های ۲۰۰۴ و ۲۰۰۵ بسیار مورد توجه واقع شده‌است. در سال‌های بعد، مجموعه‌ای از روش‌های جدید یونیزاسیون به این زیرگروه طیف‌سنجی جرمی افزوده و توسعه یافته است. اگر به روش‌های یونیزاسیون مستقیم در طیف‌سنج جرمی علاقمند باشید، می‌توانید در بیستمین شماره از فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران ، مقاله‌ای در این زمینه بخوانید که این روش‌ها و کاربردهای آنها را مرور کرده است.

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)، ابزاری قدرتمند در بررسی و مطالعه گسترده مواد در مقیاس نانو است. به کمک این میکروسکوپ، بررسی ویژگی‌های ساختاری و فیزیکی مواد مانند سختی، زبری، توپوگرافی و اندازه ذرات، امکان‌پذیر است. در چهارمین شماره سال جاری فصلنامه، در مقاله‌ای، کاربردهای متنوع این میکروسکوپ معرفی شده است.

«معرفی آشکارساز الکترون‌های برگشتی در میکروسکوپ‌های الکترونی روبشی»، عنوان مقاله دیگری از نسخته بیستم فصلنامه تخصصی است که در مورد الکترون‌های اولیه‌ای صحبت می‌کند که پس از برخورد باریکه الکترونی به نمونه، از سطح نمونه با پراکندگی الاستیک، بازگشت داده شده‌اند.

امروزه روش‌های آنالیز و شناسایی مواد، بسیار حائز اهمیت است. خواص فیزیکی و شیمیایی یک محصول به نوع مواد اولیه و ریزساختار آن بستگی دارد. روش‌هایی مانند آنالیز عنصری، آنالیز فازی و آنالیز ریزساختاری، از جمله روش‌های کلی آنالیز مواد هستند. علاوه بر این سه دسته، آنالیز سطح و آنالیز حرارتی نیز کاربردی بوده و به صورت جداگانه بررسی می‌شوند. یکی از روش‌های قدرتمند آنالیز سطح نمونه، روش «طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس» یا همان XPS است که بر اساس برهم‌کنش بین پرتو ایکس و سطح نمونه شکل گرفته است. شماره زمستان ۱۳۹۶ فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران ، اصول و مفاهیم این طیف‌سنجی طی مقاله‌ای توضیح داده شده است.

«فصلنامه تخصصی دانش آزمایشگاهی ایران » یکی از دستاوردهای مهم کارگروه‌های تخصصی شبکه آزمایشگاهی است که به صورت مستمر منتشر و از طریق پایگاه اینترنتی www.IJLK.ir در قالب الکترونیکی در دسترس علاقمندان قرار می‌گیرد.